半导体ATE自动测试系统（台湾Chroma 3360D）

        位  置：半导体工艺与集成电路测试实验室III（A2-107）/微系统实验室（A2-126）

        负责人：王莉 84832236

                                              ATE自动测试系统                                                        三相交流调压与整流的全数字可控硅控制器芯片

设备简介：

        ATE（Automatic Test Equipment）主要用于芯片的装配及测试、芯片的测试、ATE时序电路测试、开短路测试、直流测试、功能测试、交流测试等等。根据客户的测试要求、图纸及参考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。已经取得的主要成果包括ATE测试平台通用性与故障诊断的研究与实现，及获取一项国家发明专利“三相交流调压与整流的全数字可控硅控制器芯片”。