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    • 半导体ATE自动测试系统(台湾Chroma 3360D)

    半导体ATE自动测试系统(台湾Chroma 3360D)

    • 发布日期 2018年5月24日

            位  置:半导体工艺与集成电路测试实验室III(A2-107)/微系统实验室(A2-126)

            负责人:王莉 84832236

           

                                                  ATE自动测试系统                                                        三相交流调压与整流的全数字可控硅控制器芯片

    设备简介:

            ATE(Automatic Test Equipment)主要用于芯片的装配及测试、芯片的测试、ATE时序电路测试、开短路测试、直流测试、功能测试、交流测试等等。根据客户的测试要求、图纸及参考方案,采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台,利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。已经取得的主要成果包括ATE测试平台通用性与故障诊断的研究与实现,及获取一项国家发明专利“三相交流调压与整流的全数字可控硅控制器芯片”。

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    2018年5月24日

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    2018年5月24日

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