晶圆探针测试台（美国SIGNATONE S-250-5） 发布日期 2018年5月24日 位 置：半导体工艺与集成电路测试实验室II（A2-110a） 负责人：曹海燕 84832236 晶圆探针测试台 设备简介： 晶圆探针测试台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。主要应用研究方向晶圆的测试，探针台关键参数研究。已经取得的主要成果包括大直径探针台的晶圆自动传输系统，一种探针台自动定位方法的研究与实现等。 实验中心 上一篇 高真空热蒸发薄膜沉积系统（科鑫圣KXS-ZF-6Y） 2018年5月24日 下一篇 数字示波器(美国泰克DPO4054) 2018年5月24日 猜你喜欢 陶瓷3D打印机（源创高科-2638） 11 九月, 2019 设备简介： … 功率分析仪 (美国泰克PA4000-4ch-IP-PWR View) 24 五月, 2018 位 置：微系统实验室（A2-126） … 半导体特性参数分析系统（美国泰克与吉时利4200-SCS） 24 五月, 2018 位 置：半导体工艺与集成电路测试实验室II …
